實(shí)際工況模擬失效分析系統(tǒng)在模擬絕緣子實(shí)際工作環(huán)境下的老化性能綜合試驗(yàn)方面主要包括：大氣環(huán)境的污垢（防塵試驗(yàn)、降雨（淋雨試驗(yàn)）、太陽(yáng)輻射（光照老化試驗(yàn)放電（局放試驗(yàn)）、高溫高濕（高低溫交變濕熱試驗(yàn)、大氣中腐蝕性成分老化、復(fù)合鹽霧腐蝕試等。

對(duì)于瓷絕緣子材質(zhì)在直流電壓下的老化成因，有人認(rèn)為，瓷質(zhì)中的堿 金屬離子，特別是Na"離子在遷移過(guò)程中由于獲得電子而形成體積比離子體積大兩倍的原子，局部膨脹應(yīng)力致使絕緣子破裂主要出現(xiàn)在絕緣子頭部）另外一種觀點(diǎn)認(rèn)為，離子遷移造成了瓷件內(nèi)部電阻率不同的導(dǎo)電層，導(dǎo)致不均勻的電場(chǎng)分布，長(zhǎng)時(shí)間作用后而出現(xiàn)擊其穿。為了驗(yàn)證其在運(yùn)行狀態(tài)下的老化成因，電氣制造商必須對(duì)其進(jìn) 行自然大氣環(huán)境中的工作狀態(tài)的一種模擬測(cè)試。